晶體管特(te)性(xing)圖示儀(yi)|半導體管特(te)性(xing)圖示儀(yi)XJ-4810的詳細(xi)介紹：
是一種用示(shi)波管(guan)顯示(shi)半(ban)導(dao)體器件的各種特性曲線，并可測量(liang)其靜(jing)態參數的測試(shi)儀器。
本儀器與其他半導(dao)體管特(te)性圖示儀相比，具有(you)以下特(te)點(dian)：
1 本儀器采用全晶體管化電路(lu)、體積小、重(zhong)量輕、攜(xie)帶方便。
2 增設集電極雙(shuang)向(xiang)掃描電路(lu)及裝(zhuang)置，能同時(shi)觀(guan)察二(er)極管的(de)正反向(xiang)輸出(chu)特性曲線、簡(jian)化(hua)測試手續。
3 配有雙簇(cu)曲線顯示電路，對(dui)于中小功率晶體管各種參數(shu)的(de)配對(dui)，尤為方便。
4 本儀器(qi)專為工(gong)作于小(xiao)電流(liu)超(chao)b晶體管測試作了提高，*小(xiao)階梯電流(liu)可達0.2μA/級
5 本儀(yi)器(qi)還專為測(ce)試二極管的反向(xiang)漏電流(liu)采取了適當措施(shi)，使測(ce)試的IR達20nA/div。
6 本儀器配(pei)上它的擴展裝置—XJ27100場效(xiao)應管配(pei)對(dui)測試臺(tai)可對(dui)國內外各種場效(xiao)應對(dui)管和單管進行比較(jiao)測試。
7 本儀器配上它的(de)擴展裝(zhuang)置—XJ27101數(shu)字集(ji)成電路(lu)電壓傳輸(shu)特(te)性測試(shi)臺，可測試(shi)CMOS，TTL數(shu)字集(ji)成電路(lu)的(de)電壓傳輸(shu)特(te)性。
XJ4810型半導體管(guan)特性(xing)圖示儀，功能操作方便，它對于從事(shi)半導體管(guan)機(ji)理的(de)研(yan)究及半導體在無線電領域的(de)應用，是(shi)一(yi)個必不可少的(de)測試工具。
主(zhu)要技術指標
2.1 Y軸(zhou)偏轉(zhuan)因數
集(ji)電極電流(liu)范圍（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15檔，誤差不超過±3%。
二極管(guan)反向漏電流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5檔(dang)。
2μA/div-5μA/div 誤差不(bu)超(chao)過±3%。
0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤(wu)差(cha)分(fen)別不超過(guo)±20%、±10、±5%
基極(ji)電流或基極(ji)源電壓(ya) 0.05V/div 誤差不超過±3%。
外接(jie)輸入(ru) 0.05V/div 誤差不超過±3%。
偏轉倍(bei)率 ×0.1 誤(wu)差不超(chao)過±（10%+10nA）。
2.2 X軸偏(pian)轉(zhuan)因數
集電(dian)(dian)極電(dian)(dian)壓(ya)范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔(dang) 誤差不超過±3%
基極電壓范圍(wei) 0.05V/div—1V/div 分5檔 誤差不(bu)超過(guo)±3%。
基極(ji)電(dian)流或基極(ji)源電(dian)壓 0.05V/div 誤差不超(chao)過±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差(cha)不(bu)超過±3%。
2.3階梯信(xin)號(hao)
階梯電流范圍： 0.2μA/級-50mA/級 分17檔(dang)
1μA/級(ji)-50mA/級(ji) 誤差不超過(guo)±5%。
0.2μA/級、0.5μA/級 誤(wu)差不超過±7%。
階梯電壓范(fan)圍(wei)： 0.05V/級-1V/級 分5檔 誤差不(bu)超過±5%。
串聯(lian)電(dian)阻： 0、10KW、1MW 分3檔 誤(wu)差不(bu)超過±5%
每簇級數； 1—10連(lian)續可調
每秒級數： 200
極性(xing)： 正、負 分(fen)2檔
2.4 集電(dian)極掃描信號(hao)
峰(feng)(feng)值(zhi)電壓與峰(feng)(feng)值(zhi)電流容(rong)量：各檔級電壓連續(xu)可調，其*大(da)輸出不低于下(xia)表(biao)要求(qiu)（AC例外(wai)）
檔級 198V 220V 242V
0—10V 檔 5A
0—50V 檔(dang)1A
0—100V 檔(dang) 0.5A
0—500V 檔 0.1A
功耗(hao)限制電阻0—0.5MW分11檔，誤差不(bu)超(chao)過±10%